冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱

更新時間：2024-08-19

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簡要描述：

深圳市普云電子有限公司PY-E516系列冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，采用7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀易操作，可做定值和程式控制，96組程序,每組程序3200次循環(huán)，250天歷史數(shù)據(jù)保存功能。

深圳市普云電子有限公司PY-E516系列冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，采用7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀易操作，可做定值和程式控制，96組程序,每組程序3200次循環(huán)，250天歷史數(shù)據(jù)保存功能。

冷熱循環(huán)沖擊試驗箱（又名冷熱沖擊試驗箱、冷熱循環(huán)試驗箱）適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.。試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.。

冷熱沖擊循環(huán)試驗箱PY-E516系列高低溫沖擊試驗箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性。

*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法107 溫度沖擊試驗

<strong>冷熱沖擊循環(huán)試驗箱</strong>PY-E516系列高低溫沖擊試驗箱又名兩三箱式冷熱沖擊試驗箱.png

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù) :

型號					PY-E516-80L	PY-E516-150L		PY-E516-225L
性能參數(shù)			溫度暴露范圍		+60～＋200℃
	高溫室		預(yù)熱溫度上限		200℃
			升溫時間		R.T.→＋200℃約40min
			溫度暴露范圍		0～-75℃
	低溫室		預(yù)冷溫度下限		-75℃
			降溫時間		R.T.→-70℃約60min
			溫度范圍		-65～150℃
	提籃		溫度波動度		≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
			溫度偏差		≤±2℃（-65℃～+150℃）
	轉(zhuǎn)換時間				≤5S
	溫度回復(fù)時間				≤5min
	溫度回復(fù) 條件	PY-E516-80L		條件一	高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃，暴露時間30min，樣品重量5Kg鋁
				條件二	高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃，暴露時間30min,樣品重量10Kg鋁
		PY-E516-150L		條件一	高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃暴露時間30min，樣品重量10Kg鋁
				條件二	高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃，暴露時間30min,樣品重量30Kg鋁
		PY-E516-225L		條件一	高溫暴露+150℃,低溫暴露-65℃暴露時間30min樣品重量15Kg鋁
				條件二	高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃，暴露時間30min,樣品重量30Kg鋁
	外殼				冷軋鋼板表面噴塑（象白）
結(jié) 構(gòu)	內(nèi)膽				不銹鋼板
	隔熱材料				聚氨酯發(fā)泡+超細(xì)玻璃棉
制冷	制冷方式				風(fēng)冷		水冷
	制冷機				進口壓縮機
溫度傳感器					鎧裝鉑電阻
控制器					西門子PLC模塊+7英寸彩色液晶觸摸控制屏。
數(shù)據(jù)存儲與功能接口					本機SD數(shù)據(jù)卡RS485接口、USB接口
			D		400	500		600
提籃尺寸(mm)			W		500	600		750
			H		400	500		500
			D		2250	2920		2190
外部尺寸(mm)			W*		1050	1100		1460
			H		1950	2150		2320
裝機功率（KW）					19.7KVA	32KVA		36KVA
電源					AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標(biāo)準(zhǔn)配置					產(chǎn)品使用說明書1份、試驗報告1份、合格證及質(zhì)量保證書各1份、打印紙5只、擱板2層、色帶
					1只、帶腳輪。
滿足標(biāo)準(zhǔn)					GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2

冷熱沖擊循環(huán)試驗箱、冷熱沖擊實驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減?。?br/>表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；

環(huán)境模擬試驗設(shè)備模擬耐氣候檢測：環(huán)境模擬試驗設(shè)備能按IEC、MIL、IS0、GB、GJB等標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求進行冷熱沖擊、高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化.jpg

*冷熱沖擊測試箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

PY-E516系列冷熱循環(huán)沖擊式試驗箱*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

什么是冷熱沖擊試驗?

　　冷熱沖擊測試是一種測試材料對ji高或ji低溫度的抵抗力的測試技術(shù)。這種情況類似于在高溫或低溫下不連續(xù)的情況，它可以使各種項目在最短的時間內(nèi)完成測試。冷熱沖擊測試中的化學(xué)變化或物理損傷是由熱脹冷縮的變化或其他物理值的變化引起的。冷熱沖擊測試的影響包括由產(chǎn)品開裂或開裂和位移引起的電化學(xué)變化。例如，一些金屬材料，如體心立方晶格的中低強度鋼，當(dāng)其使用溫度降低時，其塑性、韌性急劇下降，使材料脆化。

　　冷熱沖擊測試系統(tǒng)可以用來實現(xiàn)這種轉(zhuǎn)換溫度，如冷熱沖擊試驗箱，也稱為高低溫試驗箱。它們可用于材料研究和工業(yè)制造商的批量或電子電氣零件、自動化零件、半成品、金屬、化工材料、通訊元件、國防工業(yè)、航空航天、jun工、BGA、基于PCB的電子芯片、并測試它們的性能。它在瞬間高低溫連續(xù)溫度變化環(huán)境中所能承受的程度，是測試在快速溫差條件下因熱脹冷縮引起的化學(xué)變化和物理損傷。